1.國外相關標準現狀

        普通LED的測試標準有：

        (1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

        IEC60747-5半導體分立器件及集成電路

        (2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics(1997-09)

        IEC60747-5-2分立半導體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

        (3)IEC60747-5-3Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-3:Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)

        IEC60747-5-3分立半導體器件及集成電路零部件5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

        (4)IEC60747-12-3 Semiconductordevices-part12-3:optoelectronic devices–Blank detail specification for light-emitting diodes–Display application(1998-02)

        IEC60747-12-3半導體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發光二極管空白詳細標準(1998-02)

        (5) CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)

        CIE127-1997LED測試方法(1997)

        (6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements

        CIE/ISOLED強度測試標準

        國際照明委員會(CIE)1997年發表CIE127-1997 LED測試方法，把LED強度測試確定為平均強度的概念，并且規定了統一的測試結構和探測器大小，這樣就為LED準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE127-1997測試方法并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業都已采用。但是隨著技術的快速發展，許多新的LED技術特性CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。

        目前，隨著半導體照明產業的快速發展，發達國家非常重視LED測試標準的制訂。如美國國家標準檢測研究所(NIST)正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準。同時，許多國外大公司的研究和開發人員正在積極參與國家和國際專業化組織，制訂半導體照明測試標準。如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術的交叉授權，并準備聯合制訂功率型LED標準，以推動市場應用。

        2.國內相關標準現狀

        從八十年代初起，我國相繼制定了一些與發光二極管相關的行業標準和國家標準。國內現有與LED測試有關的標準有：

        (1)Sj2353.3-83半導體發光二極管測試方法

        (2)Sj2658-86半導體紅外發光二極管測試方法

        (3)GB/T12561—1990發光二極管空白詳細規范

        (4)GB/T15651-1995半導體器件分立器件和集成電路：光電子器件(國家標準)

        (5)GB/T18904.3—2002半導體器件12-3:光電子器件顯示用發光二極管空白詳細規范(采用IEC60747-12-3:1998)

        (6)半導體分立器件和集成電路第5-2部分：光電子器件基本額定值和特性(國家標準;制訂中)

        (7)半導體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測試方法(國家標準;制訂中)

        (8)半導體發光二極管測試方法(中國光協光電器件分會標準;2002)