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Evan Mattson:近場光學測試優化LED光學設計方案

放大字體  縮小字體 發布日期:2014-07-04 來源:中國半導體照明網瀏覽次數:90

Radiant Zemax有限責任公司光學軟件工程師Evan Mattson先生發表主題演講

       中國半導體照明網記者 上海報道 7月3日,在Green Lighting 2014中國(上海)國際半導體照明應用技術論壇開幕式上,來自Radiant Zemax有限責任公司光學軟件工程師的Evan Mattson介紹了近場光學測試的測試原理及近場測試在燈具設計中的優勢。

據悉,目前在LED器件或燈具設計過程中,一般采用兩種模型對光源進行模擬,即“光源遠場模型”和“光源近場模型”。

而傳統方法多以LED光源的遠場測試數據為設計依據,將光源看作一個各向同性的點光源,僅僅是針對LED光源相對粗糙的測量,并不能精確地描述光源的空間光分布情況,容易導致LED產品的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題,LED光線集的獲取已成為LED光學設計的瓶頸問題。

因此,獲取并合理利用精確、詳實的LED光源信息,尤其是光源空間光分布信息是LED光學設計的關鍵點。

開幕式現場

相比遠場測試,光源近場模型則是將光源看作一個復雜的面光源來研究其實際發光情況。因此,通過對LED光源進行近場測試,可以獲得包含光線數量、光線的角度范圍、總光通量和光線起點等詳細光源信息的光線集文件。近場測試獲得的LED光源光線集的應用可以有效提高LED光學設計的質量和效率。

據Evan Mattson介紹,RSM(Radiant Source Model)是光源近場效率刻劃顯示的工業標準模型,它有著豐富的信息,可提供亮度值及色坐標參數,還可以保存所有測量的影響,并且能夠使用Radiant Zemax的ProSource?的功能使其更精準,產生更能完整的射線組合用來提供光學設計用的原型,減少光學設計中不必要的時間。

Radiant Zemax目前推出了SIG-300\400等系列產品,可采集并匯集光源周圍多角度面向的亮度及顏色測量,這些光信號會匯整至RSM進一步分析出光源的效率,這些數據可用來提供光學設計上使用。

【參考文獻】《光源近場測量在LED光學設計中的應用與研究》.范紅忠 曹民 李抒智 楊衛橋 錢晶.《光學學報》2012年第12期

注:Radiant Zemax是一家為光學、照明和顯示器行業提供測試設備及設計軟件的全球供應商,總部位于美國華盛頓州雷德蒙德市,是由ZEMAX Development Corporation和Radiant Imaging于2011年合并而成。為客戶提供各種優化改善產品質量,節約成本的高性價比測量測試設備,包括光學和照明設計軟件、色度計、光度計、測角儀等產品。

 
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