? 2014年11月6日，第十一屆中國國際半導體照明展覽會暨論壇(SSLCHINA 2014)之“材料與裝備技術”分會在廣州廣交會威斯汀酒店舉行。來自德國Instrument Systems公司的Matthias Hoeh博士發表了題為“平行測試帶來更高的LED生產量”的演講。
在報告中，Hoeh博士表示典型的LED測試系統由源儀表單元(SMU)、分光輻射譜儀、光學探針(積分球)及其他附件和軟件組成。在進行測試的過程中，可以從操作時間、電氣測量時間、光學測量時間及軟件處理時間這幾方面來提升測試效率。
在采用序列測試的情況下，對某一被測設備(DUT)完成測試后才開始進行下一個DUT的測試。而在平行測試當中，可以實現對n個DUT同一時間平行進行電氣測量，之后再按序列進行光學測量。
在實踐當中，根據“DOE 2012年8月制造路線圖”所發布的成本分析，每件DUT的封裝測試成本為0.01美元。而根據Instrument Systems公司的總體擁有成本(TCO)計算，每測試兩次(芯片級和封裝級)的成本僅為0.0046美元。
Hoeh博士還表示4/8通道的平行測試能夠將測試成本降低39%/43%。這樣，即使LED生產商面臨降低成本的壓力，仍可以采用高質量的測試設備。
