?       2014年11月6日，第十一屆中國國際半導(dǎo)體照明展覽會暨論壇(SSLCHINA 2014)之“材料與裝備技術(shù)”分會在廣州廣交會威斯汀酒店舉行。來自德國Instrument Systems公司的Matthias Hoeh博士發(fā)表了題為“平行測試帶來更高的LED生產(chǎn)量”的演講。

在報告中，Hoeh博士表示典型的LED測試系統(tǒng)由源儀表單元(SMU)、分光輻射譜儀、光學(xué)探針(積分球)及其他附件和軟件組成。在進(jìn)行測試的過程中，可以從操作時間、電氣測量時間、光學(xué)測量時間及軟件處理時間這幾方面來提升測試效率。

在采用序列測試的情況下，對某一被測設(shè)備(DUT)完成測試后才開始進(jìn)行下一個DUT的測試。而在平行測試當(dāng)中，可以實現(xiàn)對n個DUT同一時間平行進(jìn)行電氣測量，之后再按序列進(jìn)行光學(xué)測量。

在實踐當(dāng)中，根據(jù)“DOE 2012年8月制造路線圖”所發(fā)布的成本分析，每件DUT的封裝測試成本為0.01美元。而根據(jù)Instrument Systems公司的總體擁有成本(TCO)計算，每測試兩次(芯片級和封裝級)的成本僅為0.0046美元。

Hoeh博士還表示4/8通道的平行測試能夠?qū)y試成本降低39%/43%。這樣，即使LED生產(chǎn)商面臨降低成本的壓力，仍可以采用高質(zhì)量的測試設(shè)備。