培訓時間:2017年11月21日星期二 下午
培訓地點:東莞市橫瀝鎮(zhèn)職教城東莞理工學校綜合樓一樓報告廳

主辦單位:
廣東金鑒檢測科技有限公司、全國LED產(chǎn)業(yè)產(chǎn)教融合(東莞)職業(yè)教育集團
講座內(nèi)容簡介:
過去,當出現(xiàn)LED燒電極問題,質(zhì)量爭議最多的是芯片和電源。芯片廠說是電源過流過壓導致,照明廠說是芯片質(zhì)量不合格導致,但責任歸屬是需要證據(jù)的,在金鑒出來之前,業(yè)內(nèi)缺乏LED芯片失效分析的實驗室,也就是說,沒有一家能夠找出芯片質(zhì)量問題的檢測機構。沒有科學的檢測數(shù)據(jù)支持,照明廠和電源廠只能吃啞巴虧,造成很多冤案錯案。
在今年,金鑒檢測引進了千萬級的雙束聚焦離子束(FIB-SEM)顯微鏡,發(fā)現(xiàn)很多燒電極的案件與芯片關聯(lián)很大,開創(chuàng)了不少新的芯片級失效分析模型。于此,金鑒檢測方方博士開展此次講座,旨在分享案例和科普芯片級失效案例的判定方法。
客戶群體:
LED芯片廠、LED照明廠、LED電源廠、LED使用單位和采購貿(mào)易商
主講人:

方方,劍橋大學博士,廣東省青聯(lián)委員,廣東金鑒檢測科技有限公司總經(jīng)理。方博士長期致力于LED材料檢測技術分析研究,擅長從查找材料缺陷角度改善LED產(chǎn)品質(zhì)量。方博士在金鑒任職的多年時間里,累積了大量LED產(chǎn)業(yè)失效案例大數(shù)據(jù),在此大數(shù)據(jù)的基礎上推出LED體檢技術研究,幫助客戶在來料、研發(fā)、生產(chǎn)中找出產(chǎn)品常見失效點,預防最終產(chǎn)品損失的產(chǎn)生,由常規(guī)的“客戶投訴--失效分析--改善”模式轉換為“發(fā)現(xiàn)隱患--改善”模式,大大降低企業(yè)經(jīng)驗成本。其中金鑒的LED燈具體檢業(yè)務,從材料角度入手,快速評測原材料和工藝,鑒定LED燈具的質(zhì)量,約為LED企業(yè)節(jié)約80%以上的檢驗檢測時間,節(jié)省檢驗認證費用達60%以上。方博士目前擁有20多項專利,40多篇LED檢測原創(chuàng)案例文章,每推出一篇文章都會被LED界各大媒體轉載,超過十萬名讀者閱讀與收藏,不定期推出LED檢測相關培訓,幫助廠家規(guī)避品質(zhì)風險,促使LED行業(yè)健康發(fā)展。
活動安排
培訓時間:11 月21日星期二下午
2:00-3:30 講座培訓《如何科學分析LED芯片失效--LED燒電極,芯片與電源誰是罪魁禍首!》
3:30-3:50 茶歇
3:50-5:00 講座培訓《如何科學分析LED芯片失效--LED燒電極,芯片與電源誰是罪魁禍首!》
活動報名
職教集團聯(lián)系人:黃銀清
聯(lián)系電話:18122931209
電子郵件: CSAhn@china-led.net
活動負責人:邱岳
聯(lián)系電話:18816786100
電子郵件:2853308304@qq.com

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講座地址

地址:東莞市橫瀝鎮(zhèn)職教城東莞理工學校綜合樓一樓報告廳
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自駕:東莞市橫瀝鎮(zhèn)職教城東莞理工學校(導航:職教城東莞理工學校)
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