11月15日-17日，一年一度的行業(yè)盛會--第十三屆中國國際半導(dǎo)體照明論壇（SSLCHINA 2016）在北京國際會議中心召開。17日，SSLCHINA的經(jīng)典分會--“可靠性與熱管理技術(shù)”專題分會由武漢大學(xué)動力與機(jī)械學(xué)院院長、教授劉勝與飛利浦首席可靠性工程師陶國橋共同擔(dān)任分會主席并擔(dān)任嘉賓主持人。
會上，來自桂林電子科技大學(xué)機(jī)電工程學(xué)院院長、教授楊道國分享了“LED燈具壽命預(yù)測的快速評價方法”主題報告。
報告中指出，LED與傳統(tǒng)的光源相比有許多優(yōu)勢，如照明效率高、節(jié)能、壽命長，因此越來越引起人們的關(guān)注。然而，在目前的產(chǎn)品中，70%以上的輸入點(diǎn)能量轉(zhuǎn)換成了熱能。
由于接合溫度高，LED產(chǎn)品存在許多問題，比如量子效率低，光譜移位，色移，甚至壽命縮短。LED產(chǎn)品的熱可靠性也令人擔(dān)憂。在過去的十年間，盡管對LED的封裝和模塊進(jìn)行了很多研究，但是測量和預(yù)測系統(tǒng)級的LED燈的壽命仍然是一個挑戰(zhàn)。
為獲得高功率LED燈的壽命，楊道國教授在報告中，提出了基于子系統(tǒng)隔離法的LED燈的分級加載壓力加速測試，包括減低壓力加速衰變測試和增加壓力加速衰變測試。整個燈被分為三個子系統(tǒng)，即LED光源、驅(qū)動和機(jī)械設(shè)備。只對LED光源進(jìn)行分級加載壓力加速測試，將其放入熱處理室中，與時效爐中的其它子系統(tǒng)相連。
因此，對于LED光源，可以實現(xiàn)最高可以施加的壓力水平。同時，在分級加載壓力加速測試之前，對LED燈模塊進(jìn)行基于子系統(tǒng)隔離法的加速衰退測試，以實現(xiàn)理想的熱應(yīng)力極限，在此范圍內(nèi)LED燈模塊的衰退機(jī)制是一致的。
而且，楊道國教授基于分級加載壓力加速測試分析了LED光源的可靠性，并且采用了失效樹和Monte Carlo算法推測整個LED燈的可靠性。
結(jié)果表明，LED光引擎的TSL能夠通過HADT程序輕松地觀察；也提出的分級加載壓力加速測試能夠快速有效地使LED燈模塊的性能產(chǎn)生退化；SUSADT光性能的提高要好于SDSADT，這是由于SDSADT能夠有效地降低LED燈的光參數(shù)的增長；而且，伴隨著增長的荷載應(yīng)力，LED模塊的色移比光衰更靈敏。
最后，還提出了一套方法在快速評定LED燈方面具有很大的潛力。
