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德國達(dá)姆施塔特工業(yè)大學(xué)研究助理Ferdinand KEIL:加速測試條件下高品質(zhì)低成本的LED電源壽命對比性研究

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2019-11-27 來源:中國半導(dǎo)體照明網(wǎng)瀏覽次數(shù):342
 11月25-27日,由深圳市龍華區(qū)科技創(chuàng)新局特別支持,國家半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟(CSA)、第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟(CASA)主辦,深圳第三代半導(dǎo)體研究院與北京麥肯橋新材料生產(chǎn)力促進(jìn)中心有限公司共同承辦的第十六屆中國國際半導(dǎo)體照明論壇(SSLCHINA 2019)暨2019國際第三代半導(dǎo)體論壇(IFWS 2019)在深圳會展中心召開。 

2019年11月26日上午,“可靠性與熱管理技術(shù)” 分會如期召開。本屆分會由山西中科潞安紫外光電科技有限公司協(xié)辦。新加坡南洋理工大學(xué)副教授DU Hejun,華中科技大學(xué)能源與動力工程學(xué)院院長、中歐清潔與可再生能源學(xué)院中方院長羅小兵,北京工業(yè)大學(xué)教授郭偉玲,德國達(dá)姆施塔特工業(yè)大學(xué)研究助理Ferdinand KEIL,中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所馬占紅,香港科技大學(xué)趙惠珊,半導(dǎo)體照明聯(lián)合創(chuàng)新國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室(常州基地)研發(fā)工程師陳威等來自中外的強(qiáng)勢力量聯(lián)袂帶來精彩報告。
Ferdinand KEIL

 德國達(dá)姆施塔特工業(yè)大學(xué)研究助理Ferdinand KEIL帶來了題為“加速測試條件下高品質(zhì)低成本的LED電源壽命對比性研究”的主題報告,介紹了一項(xiàng)關(guān)于高端LED驅(qū)動和低成本LED驅(qū)動的對比研究。

研究采用了多種加速測試的方法確定器件的壽命,其中包括溫度、濕度、偏差測試(THB)等。一些測試中重要的參數(shù)都會被記錄下來。同時失效分析和失效模式都會跟實(shí)驗(yàn)記錄做對比。比較常見的失效原因是電腐蝕,其一般常出現(xiàn)在低成本器件中,因?yàn)橥ǔ_@些設(shè)備都缺乏有效的電路板組裝清理工藝。同時研究也發(fā)現(xiàn)了金屬薄膜電容對于高溫高濕都非常敏感,這些器件通常都是由于采用了塑料封裝。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明盡管以上兩種LED驅(qū)動在設(shè)計(jì)、產(chǎn)品質(zhì)量和失效模式都不相同,但是在THB測試環(huán)節(jié),其兩種LED的驅(qū)動失效的壽命時間并沒有很大的區(qū)別。

  

(內(nèi)容根據(jù)現(xiàn)場資料整理,如有出入敬請諒解)

 

 
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