11月25-27日，由深圳市龍華區科技創新局特別支持，國家半導體照明工程研發及產業聯盟（CSA）、第三代半導體產業技術創新戰略聯盟（CASA）主辦，深圳第三代半導體研究院與北京麥肯橋新材料生產力促進中心有限公司共同承辦的第十六屆中國國際半導體照明論壇（SSLCHINA 2019）暨2019國際第三代半導體論壇（IFWS 2019）在深圳會展中心召開。 

2019年11月26日上午，“可靠性與熱管理技術” 分會如期召開。本屆分會由山西中科潞安紫外光電科技有限公司協辦。新加坡南洋理工大學副教授DU Hejun，華中科技大學能源與動力工程學院院長、中歐清潔與可再生能源學院中方院長羅小兵，北京工業大學教授郭偉玲，德國達姆施塔特工業大學研究助理Ferdinand KEIL，中國科學院半導體研究所馬占紅，香港科技大學趙惠珊，半導體照明聯合創新國家重點實驗室(常州基地)研發工程師陳威等來自中外的強勢力量聯袂帶來精彩報告。

 德國達姆施塔特工業大學研究助理Ferdinand KEIL帶來了題為“加速測試條件下高品質低成本的LED電源壽命對比性研究”的主題報告，介紹了一項關于高端LED驅動和低成本LED驅動的對比研究。

研究采用了多種加速測試的方法確定器件的壽命，其中包括溫度、濕度、偏差測試（THB）等。一些測試中重要的參數都會被記錄下來。同時失效分析和失效模式都會跟實驗記錄做對比。比較常見的失效原因是電腐蝕，其一般常出現在低成本器件中，因為通常這些設備都缺乏有效的電路板組裝清理工藝。同時研究也發現了金屬薄膜電容對于高溫高濕都非常敏感，這些器件通常都是由于采用了塑料封裝。

實驗結果表明盡管以上兩種LED驅動在設計、產品質量和失效模式都不相同，但是在THB測試環節，其兩種LED的驅動失效的壽命時間并沒有很大的區別。

  

（內容根據現場資料整理，如有出入敬請諒解）