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繼半導體后 韓國將顯示專利申請指定為優(yōu)先審查對象

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2023-10-31 瀏覽次數(shù):224

 知識產(chǎn)權(quán)機構(gòu)韓國特許廳10月31日宣布,將從11月1日起將國內(nèi)研究、開發(fā)或生產(chǎn)的顯示領(lǐng)域的專利申請指定為優(yōu)先審查對象,為期一年。具體對象包括與顯示材料、部件、設(shè)備,制造、設(shè)計技術(shù)直接相關(guān)的申請,以及韓國國內(nèi)生產(chǎn)或準備生產(chǎn)顯示相關(guān)產(chǎn)品、設(shè)備等企業(yè)的申請,和與顯示技術(shù)相關(guān)的國家研究開發(fā)項目成果相關(guān)的申請等。

特許廳預(yù)計,通過這個制度,原本平均需要16個月才能開始的一般專利審查周期,將縮短至平均2個月內(nèi)。與此同時,在10月31日結(jié)束的半導體領(lǐng)域的申請優(yōu)先審查對象指定,也將延長一年。如果申請與半導體材料、部件、設(shè)備,制造、設(shè)計技術(shù)直接相關(guān)的專利,也將能夠接受優(yōu)先審查。

此外,考慮到在申請優(yōu)先審查時,很多情況下很難預(yù)測專利分類(CPC)是否符合條件,因此將刪除與現(xiàn)有半導體相關(guān)的專利分類要求。據(jù)悉,這一措施是為了支持韓國企業(yè)在國際顯示領(lǐng)域?qū)@麪幎巳找婕觿〉那闆r下,快速獲得專利而實施的。

(來源:集微)

 
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