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西安交通大學(xué)王艷豐:基于YSZ介質(zhì)層的氫終端金剛石場效應(yīng)晶體管

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2018-11-02 來源:中國半導(dǎo)體照明網(wǎng)作者:JACK瀏覽次數(shù):1133
  2018年10月23-25日,第十五屆中國國際半導(dǎo)體照明論壇(SSLCHINA 2018)暨2018國際第三代半導(dǎo)體論壇(IFWS 2018)在深圳會展中心舉行。其中,24日下午,由江蘇南大光電材料股份有限公司、江蘇博睿光電有限公司和北京康美特科技股份有限公司協(xié)辦支持的“超寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)”分會成功舉行。
王艷豐
  會上,西安交通大學(xué)王艷豐帶來了《基于YSZ介質(zhì)層的氫終端金剛石場效應(yīng)晶體管》研究報告。
 
  金剛石具有很多的優(yōu)異性能,比如:好的透光性、有效的抗輻射能力、大的禁帶寬度、大的擊穿電壓、大的熱導(dǎo)、高的載流子遷移率、等等。這些優(yōu)異性能使得金剛石在透光窗口材料、圖層材料、電子器件領(lǐng)域具有巨大的應(yīng)用潛力。金剛石制備的電子器件具有高的功率頻率特性以及在極端環(huán)境下工作的能力 [1-2]。但是,由于磷、氮等摻雜劑在金剛石內(nèi)的激活能很大,使金剛石不能得到有效的摻雜。
 
  幸運(yùn)的是,當(dāng)使用氫等離子體處理金剛石表面以后,將在金剛石表面形成C-H,得到氫終端金剛石。這種金剛石表面以下10nm左右將形成二維空穴氣層,這層二維空穴氣的薄層空穴濃度可以達(dá)到1013 cm-2。因此,可以使用氫終端金剛石來制備電子器件。但是,氫終端金剛石的C-H鍵可能在高溫有氧或極端化學(xué)環(huán)境中被破壞,進(jìn)而破壞二維空穴氣層,使得器件性能惡化。在氫終端場效應(yīng)晶體管制備過程中,為了保護(hù)氫終端不被破壞,一般使用介質(zhì)層覆蓋溝道。到目前為止,很多介質(zhì)層被用在氫終端場效應(yīng)晶體管中,比如:SiO2, Al2O3, HfO2, Ta2O5, and ZrO2等等。摻釔氧化鋯(YSZ)是一種性能優(yōu)異的介質(zhì)材料,具有很好的而穩(wěn)定性,大的禁帶寬度和介電常數(shù)。據(jù)讀者所知,并沒有基于YSZ介質(zhì)層的氫終端金剛石場效應(yīng)晶體管的研究。
 
  在本研究中,我們成功的制備了基于YSZ介質(zhì)層的氫終端金剛石場效應(yīng)晶體管。首先,使用電子束蒸發(fā)技術(shù),在氫終端金剛石表面制備了源漏電極;然后,使用紫外臭氧技術(shù),對器件進(jìn)行電器隔離;接著,使用原子層沉積技術(shù),沉積一層氧化鋁,保護(hù)氫終端溝道;接著,使用磁控濺射技術(shù),沉積YSZ介質(zhì)層;隨后,使用電子束蒸發(fā)技術(shù),制備鋁柵極,柵的長、寬分別為15 和100微米;最后,介紹了測試該器件的電學(xué)性能。【根據(jù)會議資料整理,如有出入敬請諒解!】
 
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